Oog voor betrouwbaarheid

Kwaliteitsproblemen tijdens productie en in het veld kunnen leiden tot hoge kosten en zelfs tot imagoschade – zie het recente fiasco met de Galaxy Note 7 van Samsung. Het is van belang om in een vroeg stadium van de ontwikkeling oog te hebben voor de betrouwbaarheid van een product. Dit kost meer effort maar is nog altijd goedkoper dan een redesign tijdens productie of een terugroepactie.

De betrouwbaarheid van elektronica begint bij het productieproces van de individuele halfgeleidercomponenten in de waferfab. De veelgebruikte norm JESD47 ‘Stress-test-driven qualification of integrated circuits’ van de internationale standaardisatieorganisatie Joint Electron Device Engineering Council (Jedec) beschrijft een basisset van acceptatietests om nieuwe chips en product- of proceswijzigingen te kwalificeren voor consumenten- en industriële toepassingen. Specifiek voor automotive is er de AEC-Q100-norm ‘Failure mechanism based stress qualification for integrated circuits’ en voor defensie, lucht- en ruimtevaart is er Mil-STD-883 ‘Test method standard microcircuits’.