Achtergrond

NXP werkt aan volgende generatie halfgeleidertesters

Henry Wichert is principal design engineer test bij Itec NXP Nijmegen. Hij heeft 28 jaar ervaring in het ontwikkelen van testsystemen en -applicaties en is momenteel als systeemarchitect verantwoordelijk voor de ontwikkeling van de NXParset.

Leestijd: 6 minuten

Binnen de Itec-organisatie ontwikkelt NXP apparatuur om eigen producten te testen. Van oudsher richt de afdeling zich op discrete halfgeleiders, maar de gekozen architectuur leent zich ook voor IC’s. Zo goed zelfs dat de volgende generatie specifiek wordt ontworpen met IC-tests als doel.

Binnen NXP is Itec (Industrial Technology Engineering Center) de organisatie die assemblage- en testapparatuur ontwikkelt en produceert voor met name discrete componenten zoals diodes, bipolaire transistoren, Mosfets en thyristoren. In Nijmegen bouwt Itec het Parset-testplatform (Parametric Semiconductor Tester). Op dit moment werken we aan de NXParset (Next Generation Parset), die ook geschikt is voor het testen van IC’s.

Wat is het verschil tussen het testen van discrete componenten en IC’s? Vooral vroeger, maar in zekere mate ook nu nog, is de productie gerelateerd aan de package. Discrete halfgeleiders hebben doorgaans minder aansluitingen nodig – hoewel er meerdere discrete functies in een enkel package kunnen worden geplaatst. Tot eind jaren tachtig gold steevast de stelregel: bij zes pootjes of minder is het een discrete halfgeleider, bij acht pootjes of meer een IC. Tegenwoordig is deze scheidslijn minder scherp, maar de regel gaat nog vaak op. Daarnaast worden discrete halfgeleiders vooral getest op parameters zoals versterking, doorslagspanning en lekstromen, terwijl IC’s vooral functioneel worden getest. Gezien de lage prijs van discrete halfgeleiders en de zeer hoge aantallen zijn lage testkosten essentieel.

This article is exclusively available to premium members of Bits&Chips. Already a premium member? Please log in. Not yet a premium member? Become one and enjoy all the benefits.

Login

Related content