Warning: Undefined array key "bio" in /home/techwatch/domains/test.bits-chips.nl/public_html/wp-content/plugins/wpcodebox2/src/Runner/QueryRunner.php(126) : eval()'d code on line 13
Author:
Reading time: 1 minute
National Instruments heeft twee modulaire PXI Express-gebaseerde RF-instrumenten geïntroduceerd voor het geautomatiseerd testen van draadloze apparatuur. De 6,6 GHz PXIE-5663E-vectorsignaalanalyzer (VSA) en de 6,6 GHz PXIE-5673E-vectorsignaalgenerator (VSG) leveren, volgens NI, betere tijden voor het geautomatiseerd testen van vele apparaten die gebruikmaken van de nieuwste draadloze communicatiestandaarden zoals GSM/Edge/WCDMA, Wimax en WLan. De instrumenten beschikken over de nieuwe RF-listmodusfunctie, die deterministisch sequenties in frequentie en signaalsterkte afloopt. Zo zijn tijdens een test sneller aanpassingen te maken in de RF-configuratie. Bovendien versnelt de wide-loop bandwidth-modus het meten verder door een reductie van de settlingtijd van de lokale oscillator tot 300 microseconden of minder.
Met de RF-listmodus kunnen ingenieurs de 6,6 GHz PXI Express-VSG en -VSA configureren om snel een voorgeprogrammeerde lijst met RF-instellingen te doorlopen, inclusief frequentie en vermogensniveau met vastgestelde timingintervallen. Ook zijn nauwkeuriger vermogensmetingen mogelijk. Daarmee kunnen ingenieurs het inputreferentieniveau van de PXIE-5663E-VSA optimaliseren.
In wide-loop bandwidth-modus zijn de VSG en VSA sneller afgestemd op een middenfrequentie dan vele gangbare RF-instrumenten. De normale afstemtijden bedragen 300 en 400 microseconden voor frequenties tussen 800 en 1950 MHz. Met snellere settlingtijden bereiken ingenieurs een reductie van de totale meettijd bij geautomatiseerde RF-testapplicaties.
De verbeterde RF-instrumentatiesuite is gebaseerd op het softwarematige testplatform van NI, dat industriestandaard pc-technieken omvat zoals multicoreprocessoren en busaansluitingen voor PCI Express-instrumenten. Dankzij het feit dat de modulaire PXI-RF-instrumenten op software zijn gebaseerd, kunnen ingenieurs met de grafische ontwikkelsoftware Labview meetalgoritmes ontwikkelen waarmee ze vijf- tot tienmaal sneller dan met gangbare RF-instrumenten een breed scala aan draadloze apparaten kunnen testen, claimt NI.
