Warning: Undefined array key "bio" in /home/techwatch/domains/test.bits-chips.nl/public_html/wp-content/plugins/wpcodebox2/src/Runner/QueryRunner.php(126) : eval()'d code on line 13
Author:
Reading time: 1 minute
National Instruments voegt Long Term Evolution-testmogelijkheden toe aan zijn RF-testproductportfolio via de LTE Measurement Suite voor PXI-RF-signaalgeneratoren en -analysatoren die binnenkort op de markt verschijnt. Het op software gebaseerde systeem is bedoeld voor het testen van 3GPP LTE-componenten, onderdelen van subsystemen en mobiele stations. Volgens NI is het een snelle, flexibele en nauwkeurige oplossing voor ingenieurs die geautomatiseerde validatie- en productietestsystemen ontwikkelen voor LTE-producten.
De LTE Measurement Suite bestaat uit de nieuwe LTE Measurement Suite-software, de 6,6 GHz PXIE-5663E-vectorsignaalanalysator, de 6,6 GHz PXIE-5673E-vectorsignaalgenerator en een PXI-chassis en -controller. Alle hardware van het systeem kan worden gebruikt om eerdere RF- en draadloze standaarden te testen, alsmede LTE en protocollen van de volgende generatie. Volgens de eerste resultaten realiseert het LTE-testsysteem metingen met een modulatienauwkeurigheid van -48 dB en kan het geautomatiseerde metingen drie tot vijf maal sneller uitvoeren dan de gebruikelijke instrumenten, aldus NI.
