Tools&Toys

NI breidt RF-testportfolio uit met LTE

Alexander Pil
Leestijd: 1 minuut

National Instruments voegt Long Term Evolution-testmogelijkheden toe aan zijn RF-testproductportfolio via de LTE Measurement Suite voor PXI-RF-signaalgeneratoren en -analysatoren die binnenkort op de markt verschijnt. Het op software gebaseerde systeem is bedoeld voor het testen van 3GPP LTE-componenten, onderdelen van subsystemen en mobiele stations. Volgens NI is het een snelle, flexibele en nauwkeurige oplossing voor ingenieurs die geautomatiseerde validatie- en productietestsystemen ontwikkelen voor LTE-producten.

De LTE Measurement Suite bestaat uit de nieuwe LTE Measurement Suite-software, de 6,6 GHz PXIE-5663E-vectorsignaalanalysator, de 6,6 GHz PXIE-5673E-vectorsignaalgenerator en een PXI-chassis en -controller. Alle hardware van het systeem kan worden gebruikt om eerdere RF- en draadloze standaarden te testen, alsmede LTE en protocollen van de volgende generatie. Volgens de eerste resultaten realiseert het LTE-testsysteem metingen met een modulatienauwkeurigheid van -48 dB en kan het geautomatiseerde metingen drie tot vijf maal sneller uitvoeren dan de gebruikelijke instrumenten, aldus NI.

This article is exclusively available to premium members of Bits&Chips. Already a premium member? Please log in. Not yet a premium member? Become one and enjoy all the benefits.

Login

Related content