Kort nieuws

Fei in project voor laagvoltage-elektronenmicroscoop

Pieter Edelman
Leestijd: 1 minuut

Fei heeft een overeenkomst gesloten met de universiteit van Ulm en het bedrijf Ceos uit Heidelberg om de komende jaren een sub-ångströmelektronenmicroscoop te bouwen die bij de relatief lage energie van twintig kV werkt in plaats van de gebruikelijke driehonderd kV. Daardoor zal het instrument gevoelige materialen in kaart kunnen brengen die nu vernietigd worden tijdens de beeldvorming, zoals gevoelige organische moleculen en tweedimensionale materialen zoals grafeen.

De overeenkomst valt binnen het Salve-project van de universiteit van Ulm, dat al sinds 2008 werkt aan laagvoltage-elektronenmicroscopie. Binnen de samenwerking zal Ceos zich richten op een corrector voor de chromatische en sferische abberaties bij deze lage voltages, terwijl de universiteit van Ulm de applicatiekant voor zijn rekening neemt. Fei wordt verantwoordelijk voor de elektronenmicroscoop zelf. Daarmee neemt het de plaats in van Zeiss, dat vorig jaar uit het project stapte. Fei baseert het ontwerp op zijn Titan 80-300, een commercieel beschikbare abberatie-gecorrigeerde tem.

This article is exclusively available to premium members of Bits&Chips. Already a premium member? Please log in. Not yet a premium member? Become one and enjoy all the benefits.

Login

Related content