Warning: Undefined array key "bio" in /home/techwatch/domains/test.bits-chips.nl/public_html/wp-content/plugins/wpcodebox2/src/Runner/QueryRunner.php(126) : eval()'d code on line 13
Author:
Reading time: 1 minute
Agilent introduceert een nieuw platform voor automatische optische inspectie, volledig gekwalificeerd voor alle gebieden van SMT-lijninspectie, inclusief post-, pre- en 2D-mogelijkheden. De Medalist SJ5000 kan ook de kleine 01005-componenten inspecteren. Klanten kunnen het platform in productielijnen integreren waar het huidige Agilent Medalist SJ50 Series 3 AOI-systeem al in gebruik is.
